薄膜介电常数测试仪的测试顺序

先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。

1. 把配用的Q表主调谐电容置于小电容量，微调电容置于－3pF。
2. 把本测试装置插到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
3. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈
4. 调节平板电容器测微杆，使二极片相接为止，读取刻度值记为D_O。
5. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取新的刻度值，记为D₁，这时样品厚度D₂= D₁－D₀。
6. 把园筒电容器置于5mm处。
7. 改变配合Q表频率，使之谐振，读得Q值。
8. 先顺时针方向，后逆时针方向，调节园筒电容器，读取当Q表指示Q值为原值的一半时测微杆上二个刻度值，取这二个值之差，记为M₁。
9. 再调节园筒电容器，使Q表再次谐振。
10. 取出平板电容器中的样品，这时Q表又失谐，调节平

板电容器，使再谐振，读取测微杆上的读值D₃，其变化值为

D₄= D₃－D₀。

1. 和h款操作一样，得到新的二个值之差，记为M₂。

3.  计算测试结果

被测样品的介电常数：

Σ＝D₂ / D₄

被测样品的损耗角正切值：

     tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 15.5

式中：K为园筒电容器线性变化率，一般为0.33 / mm，每个测试夹具在盒盖内标有具体数值。

一般按以上公式计算的结果，其精度和重复性是能满足的，但对介电常数大的被测样品（即样品从平板样品放入和取出，平板电容器刻度值变化较大），边缘效应电容对测试会有较显著的影响，这时可按下列公式计算：

Σ＝（C₂ + C_F2－C_F）/ C₁

tgδ＝K（M₁－M₂ ）/ 3.46（C₂ + C_F2－C_F）/ C₁

使用方法

使用本测试装置和Q表配用，对绝缘材料以及其他高阻性能的薄材，列如：纸张、木材、粉压片料等，进行相对测量，其测试方法就非常简便、实用，采取被测样品和标准样品相比较方法，就能灵敏地区别二者之间的轻微差别，例如含水量、配用原料变动等等。

测试时先把标准样品放入平板电容器，调节Q表频率，谐振后读得Q值，再换上被测样品，调节园筒电位器，再谐振，看Q值变化，如Q值变化很小，说明标准样品和被测样品高频损耗值一致，反之说明二者性能有区别，如园筒电容器调节不能再谐振，通过调节Q表频率才能谐振，且频率变化较大，说明被测样品和标准样品的配用原材料相差较大。

本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和

保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：

1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。

用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。

1. 平板电容器

极片尺寸：φ25.4mm

极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm

1. 园筒电容器

电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF

长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm

3.  夹具插头间距：25mm±1mm

4.  夹角损耗角正切值：≤4×10^－4（1MHz时）