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半导电电阻测试仪仪器使用规程讲解
点击次数:288 发布时间:2024-03-12
半导电电阻测试仪是一种用于测量材料电阻特性的仪器,通常用于评估半导体材料的导电性能。仪器原理主要基于欧姆定律和四探针测量方法。通过四根金属探针与半导体材料接触来测量其电阻率。当一定压力下探针与材料接触时,在最外侧的两根探针(1和4)之间通入电流I,中间的两根探针(2和3)用于测量产生的电位差V。根据这些数据,结合探针系数C(取决于探针间距和排列方式),可以计算出材料的电阻率。这一过程涉及到电流源的应用,即通过恒流源提供恒定电流,以及电压测量,即通过测试电路捕获电压降。
1.安全检查:在使用前,确保仪器电源线和接地线连接正确无误,并且仪器没有任何损坏或裸露的电线。
2.开机预热:开启仪器电源,给予一定的预热时间,以便仪器稳定。
3.校准仪器:根据制造商的指导手册进行校准,以确保测量结果的准确性。这可能包括短路校准和开路校准。
4.样品准备:准备待测样品,确保其表面清洁、无污染,且与测试探头的良好接触。
5.连接电路:将测试探头与样品接触,并确保连接稳固,形成良好的电气接触。
6.参数设置:根据需要测量的电阻范围,设置合适的测试参数,如测试电流、电压范围等。
7.进行测试:启动测试程序,等待仪器完成测量并显示结果。
8.记录数据:记录下测试结果,包括电阻值、测试日期和时间等。
9.清理样品和探头:测试结束后,清理样品表面和探头,避免残留物影响后续测试的准确性。
10.关机保养:关闭仪器电源,并进行必要的清洁和维护工作,以延长仪器的使用寿命。