四探针电阻率测试仪（双电）

四探针电阻率测试仪（双电）可直接测量电极1和2之间表面间隙的电阻。这样测得的电阻包括了电极1和2之间的表面电阻和这两个电极间的体积电阻。

还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头

注：由于通过试样内层的电流的影响，表面电阻率的计算值与试样和电极的尺寸有很大的关系，因此，为了测定时可进行比较，推荐使用与图2所示的电极装置的尺寸相一致的试样，其中d1= 50 mm, d2 = 60 mm, ds = 80 mm,

量程： 20.00mV

本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头

然而，对于很宽范围的环境条件和材料性能，当电极尺寸合适时， 体积电阻的影响可忽略不计。

薄片电阻率测量:

四探针电阻率测试仪（双电）

配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率.

当薄片厚度与针距比 W/S>0.5 时， 设定电阻率基本系数 C，参照表 5.1，厚度修正 G<1.000,形状位置修正 D<1.000,具体值 G（W/S）和 D（d/S）要查附表 1 和附表 2， 只读结果。

PC软件过程数据处理.

当薄片厚度与针距比 W/S>0.5 时， 设定电阻率基本系数 C，参照表 5.1，厚度修正 G<1.000,形状位置修正 D<1.000,具体值 G（W/S）和 D（d/S）要查附表 1 和附表 2， 只读结果。

四端测试法是目前较*之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源。

为测定表面电阻率，试样的形状不限，只要允许使用第三电极来抵消体积效应引起的误差即可。

测试类别的快捷选择方式，方便了用户同时测试多个参数，提高测试效率。

电源

外形尺寸：

阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

电   阻：1×10-5～2×105Ω

电导率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
测量误差±5%
测量电压量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
测量精度±（0.1%读数）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。

量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
误差：±0.2%读数±2字

主机外形尺寸：330mm*340mm*120mm

显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ

标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

PC软件过程数据处理.

四端测量法.

外形尺寸：

四探针方阻电阻率测试仪是目前较*之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；

四探针测试探头

化导致的电流变化与被测电流相比可忽略不计。

测试类别的快捷选择方式，方便了用户同时测试多个参数，提高测试效率。

标准电阻校准仪器.

结果。

也可以使用条形电极或具有合适尺寸的其他装置。

也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO 膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具