四探针电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四探针电阻率测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设

参数资料

1.电阻范围：10-5～2×105Ω/□

2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm

3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度：±0.1%读数

5.电阻精度：≤0.3%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头： 探针间距选购：1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四探针测试仪原理,四探针电阻测试仪

参数资料

1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□

2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm

3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.电流精度：±0.2%读数

5.电阻精度：≤0.3%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头： 探针间距选购：1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针