100MHZ高频介电常数测试仪

100MHZ高频介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

100MHZ高频介电常数测试仪电极规格

固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

粉体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）

试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM

产品配置：

   1、测试主机：一台

   2、测试电感：9个

   3、测试夹具：1套

其它规格：

 1、  环境温度：0℃～+40℃；                                            

2、相对湿度：<80％；  

3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

4、消耗功率：约25W；  

5、净重：约7kg；  

6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）

4． 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023。
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差
频率范围20kHz～10MHz；
固有误差5％满度值的2％；
工作误差7％满度值的2％；
频率范围10MHz～60MHz；
固有误差6％;满度值的2％；
工作误差8％;满度值的2％。
2．电感测量范围：14.5nH~8.14H
3．电容测量：1~ 460
直接测量范围1～460pF
主电容调节范围30～500pF150pF以下±1.5pF；
准确度150pF以上±1％
注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4．信号源频率覆盖范围
频率范围10kHz～50MHz
频率分段（虚拟）
10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～60MHz
频率指示误差3times;10-5plusmn;1个字

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。

漏导损耗

实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。

介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

常用的检测方法标准有：GB/T 1409 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T 1693 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
GB/T 21216 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法
ASTM D150 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法