四探针半导体电阻率测量仪

简要描述：四探针半导体电阻率测量仪参照标准：

1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

更新时间：2024-07-17

产品型号：BEST-300C

厂商性质：生产厂家

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产品详情

品牌	其他品牌	价格区间	1万-3万
自动化度	全自动	应用领域	化工,生物产业,能源,电气,综合

四探针半导体电阻率测量仪测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。

四探针电阻测试仪由主机、选配的四探针探头和测试台等三部分组成。主机主要由数控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成。自动/手动量程可选；电阻率、方阻、电阻测试类别快捷切换：仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便可靠；具有零位、满度自校功能；测试结果由数字表头直接显示。

四探针半导体电阻率测量仪

1.方块电阻sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω /□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.电阻率Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
3.测试电流Test current	0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA.μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA、1μA、10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度Current	±0.1% accuracy	±0.2% accuracy	±0.2% accuracy	±0.3% accuracy	±0.3% accuracy	±0.3% accuracy
5.电阻精度Resistance	≤0.3% accuracy	≤0.3% accuracy	≤0.3% accuracy	≤0.5% accuracy	≤0.5% accuracy	≤0.5% accuracy
6.显示读数display	屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.测试方式	test mode双电测量Double electrical measurement
8.电源Power	输入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W

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