国标GBT1409介电常数试验仪电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

薄膜介电常数试验机电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为 　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd 定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为 ω=σE2

薄膜介电常数测定仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

GB1409介电常数测试仪仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

点胶纸介电常数测试仪由于 频 率 范围的不同，实际上电桥构造会有明显的不同。例如一个50p F-10 00p F的电容在 50 Hz时的阻抗为60 Md2-3 Md2，在100 kHz时的阻抗为3 000 Q-1 500 S1 频率 为 100k Hz时，桥的四个臂容易有相同数量级的阻抗，而在50H z-60H z的频率范围内则是 不可能的。因此，出现了低频和（相对）高频两种不同形式的电桥。