四探针电阻率方块电阻测试仪测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

自动四探针电阻率测试仪注意事项： 1、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象， 2、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针 3、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作 4、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量

低阻双电四探针试验仪四探针法测试的 导电性新材料、铝箔、铜箔等具有类似性质要求测量的材料.

四探针电阻率检测仪双电组合测试方法： 利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，适用于斜置式四探针对于微区的测试。

四探针方阻电阻测试仪参照标准： 1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》. 4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.