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铜片四探针电阻率测试仪更新时间:2024-07-18型号:BEST-300C厂商性质:生产厂家浏览量:521
铜片四探针电阻率测试仪本标准与SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要变化如下:卜全因斤的试件,如来远用视展电况在数但上等于2,则两内探什之间则得的电势力。
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ITO导电箔膜低阻测试仪更新时间:2024-07-18型号:BEST-300C厂商性质:生产厂家浏览量:524
ITO导电箔膜低阻测试仪探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入,通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认;按照以上方法和步骤设定”厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。
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2439薄膜防静电体积电阻率测试仪更新时间:2024-07-18型号:BEST-19厂商性质:生产厂家浏览量:590
2439薄膜防静电体积电阻率测试仪存储温度和湿度-10℃ 到 60℃ 80%RH 以下(无凝结)操作环境 室内,高海拔 2000m
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薄膜体积电阻表面电阻率测试仪更新时间:2024-07-18型号:BEST-380厂商性质:生产厂家浏览量:607
薄膜体积电阻表面电阻率测试仪GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》。适用范围:适用于测量粉末、粉体、颗粒物、电子元器件、介质材料、电线电缆、防静电产品、如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值等绝缘性能的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器测量高电阻测微电流。
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