镀膜介电常数测定仪在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃， 氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

薄膜塑料介电常数测定仪中速: 25次/s, 慢速: 5次/s 校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准 等效方式 :串联方式, 并联方式 量程方式:自动, 保持

聚乙烯薄膜介电常数测定仪 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。 ◎ 介电常数测量范围可达1～105

硅胶介电常数测定仪本电极的设计主要是参照国标GB1409。本电极采用的是三电极式结构，能有效的表面漏电流的影响，使测量电极下的电场趋于均匀电场

陶瓷片介电常数介损测试仪测量项目测量范围测量 电容量Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF 介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目测量范围测量 电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF 介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0